三維掃描儀技術一般以數字化測量設備的輸出數據爲原始信息來源。隻有在得到要逆向的實體的表面三維信息，才能實現後面的工作，如模型的檢測，複雜曲面的建模、評價、改進和制造。而測量方法的好壞直接影響到對被測實體描述的精確、完整程度，影響到數字化實體幾何信息的速度，進而影響到重構的CAD 曲面、實體模型的質量，並最終影響到整個工程的進度和質量。因此，在整個的鏈條中，處於整個工程的開始，因此是整個工程的基礎，也是技術的一個關鍵技術部分。

　　三維掃描儀的數據採集方法即三維表面數據採集方法可以分爲接觸式和非接觸式兩大類。接觸式測量方法包括：坐标測量機和層析法。非接觸式測量方法包括：光學測量、超聲波測量、電磁測量等方法。各種測量方法，坐标測量機是一種大型精密的三坐标測量儀器，可以對具有複雜形狀的工件的空間尺寸進行測量。

　　CMM 主要優點是測量精度高，适應性強，但接觸式測頭測量的緻命弱點就是測量速度太慢，測量效率太低，而且對一些軟質表面無法進行測量。所以，對於(yú)響應快速制造有點力不從心。幹涉法是通過測量兩束相幹光的光程差來計算物體的高度分布，測量精度相當高，但測量範圍小，抗幹擾能力弱，不适合測量凹凸變(biàn)化大的複雜曲面。

　　激光衍射法的情況與幹涉法基本相同。層析法是近年來發展的一種技術，三維掃描儀将研究的零件原形填充後，採用逐層銑削和逐層光掃描相結合的方法獲取零件原形不同位置截面的内外輪廓數據，並将其組合起來獲得零件的三維數據。層析法的優點在於任意形狀，任意結構零件的内外輪廓進行測量，但測量方式是破壞性的。

　　基於(yú)光學三角型原理的激光掃描法這種測量方法根據光學三角型測量原理，以激光作爲光源，其結構模式可以分爲光點、單線條、多光條等，将其投射到被測物體表面，並(bìng)採用光電敏感元件在另一位置接收激光的反射能量，根據光點或光條在物體上成像的偏移，通過被測物體基平面、像點、象距等之間的關系計算物體的深度信息。

　　基於相位偏移測量原理的莫爾條紋測量方法将光栅條紋投射到被測物體表面，三維掃描儀光栅條紋受物體表面形狀的調制，其條紋間的相位關系會發生變化，數字圖像處理的方法解析出光栅條紋圖像的相位變化量來獲取被測物體表面的三維信息。距離法是利用光線飛行的時間來計算距離，常採用激光和脈沖光束。比較典型的應用就是電子經緯儀交繪測量法。

　　非接觸式機構光三維掃描儀又名立體視覺測量方法測量是目前最爲先進的技術的數據採集方法，根據同一個三維空間點在不同空間位置的兩個（多個）攝像機拍攝的圖像中的視差，以及攝像機之間位置的空間幾何關系來獲取該點的三維坐标值。非接觸式機構光測量方法可以對處於兩個（多個）攝像機共同視野内的目标特征點進行測量，而無須伺服機構等掃描裝置。

　　非接觸式機構光測量技術關鍵是空間特征點在多幅數字圖像中提取與匹配的精度與準確性等問題。非接觸式機構光三維掃描儀有空間編碼的特征的結構光投射到被測物體表面制造測量特征的方法有效解決瞭測量特征提取和匹配的問題，結構光投影測量法被認爲是目前三維形狀測量中最好的方法，它的原理是将具有一定模式的光源，如栅狀光條投射到物體表面，然後用兩個鏡頭獲取不同角度的圖像，通過圖像處理的方法得到整幅圖像上像素的三維坐标，這種非接觸式機構光三維掃描儀方法具有速度快、無需運動平台的優點。

　　目前國内也在國外非接觸式機構光三維掃描儀的基礎上加以改進，制作的非接觸式機構光在各類參數都超越瞭國外同等設。

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